G07800 - SEMI G78 - Test Method for Comparing Automated Wafer Probe Systems Utilizing Process-Specific Measurements StdPbc-0718 CC-Linkとはベンダーから独立した，オープンなデバイスレベル・ネットワーク・スタンダードである。ベンダーからの独立性およびオープン性はCC-Link協会によって保証されている。

CC-Linkとはベンダーから独立した，オープンなデバイスレベル・ネットワーク・スタンダードである。ベンダーからの独立性およびオープン性はCC-Link協会によって保証されている。

SEMI S14-1102 (technical revision)

and SEMI C6

SEMI E10-0221 (technical revision)

G07800 - SEMI G78 - Test Method for Comparing Automated Wafer Probe Systems Utilizing Process-Specific Measurements StdPbc-0718 CC-Linkとはベンダーから独立した，オープンなデバイスレベル・ネットワーク・スタンダードである。ベンダーからの独立性およびオープン性はCC-Link協会によって保証されている。This test method was technically approved by the global Automated Test Equipment Committee and is the direct responsibility of the North American Automated Test Equipment Committee. Current edition approved by the North American Regional Standards Committee on December 18, 1998. Initially available at www. semi. org April 1999; to be published June 1999. To define the terms and provide a means of comparative, or relative measurement for the automated